半导体元器件失效分析技术与案例解析 失效分析是对已失效器件进行的一种事后检查,根据需要,使用电测试以及许多先进的物理、金相和化学的分析技术,以验证所报告的失效,确定失效模式,找出失效机理。 半导体 fib 元器件 emmi 半导体元器件 2025-10-26 21:30 5